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高低溫試驗(yàn)箱是按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn)。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)。
高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)指標(biāo)：
1、溫度范圍：A:-20℃～150℃ B:-40℃～150℃ C:-60℃～150℃ D:-70℃～150℃；
2、波動(dòng)/均勻度：±0.5℃/±2℃；
3、升溫速率：1.0～3.0℃/min；
4、降溫速率： 0.7～1.0℃/min；
5、定時(shí)功能：0.1～999.9（H、M、S）可調(diào)。
高低溫試驗(yàn)箱使用環(huán)境：
1、環(huán)境溫度：5℃～＋30℃ ≤85％R.H
2、電源電壓：AC380V±10％ 50±0.5Hz 三相五線制
3、周圍無(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)，無(wú)腐蝕氣體;
4、無(wú)陽(yáng)光直接照射或其他冷、熱源直接輻射;
5、周圍無(wú)強(qiáng)烈氣流，當(dāng)周圍空氣需強(qiáng)制流動(dòng)時(shí)，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上;
6、周圍無(wú)干擾試驗(yàn)箱控制電路的磁場(chǎng)影響;
7、周圍無(wú)高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)。